几何背景生成器网站,广西临桂建设局网站,免费视频app软件,建设与管理局网站二、MOSFET参数 1、电气参数 （1）VGS ：加在栅源两极之间的最大电压，一般为:-20V-+20V。 VGS额定电压是栅源两极间可以施加的最大电压。设定该额定电压的主要目的是防止电压过高导致的栅氧化层损伤。实际栅氧化层可承受的电压远高于额定电压，但是会随制造工艺的不同而改变…二、MOSFET参数 1、电气参数 （1）VGS：加在栅源两极之间的最大电压，一般为:-20V-+20V。 VGS额定电压是栅源两极间可以施加的最大电压。设定该额定电压的主要目的是防止电压过高导致的栅氧化层损伤。实际栅氧化层可承受的电压远高于额定电压，但是会随制造工艺的不同而改变，因此保持VGS在额定电压以内可以保证应用的可靠性。 （2）ID：连续漏极电流，会随温度的升高而降低。 ID定义为芯片在最大额定结温TJ(max)下，管表面温度在25℃或者更高温度下，可允许的最大连续直流电流。该参数为结与管壳之间额定热阻RθJC和管壳温度的函数：这就是稳态系统散热的计算公式。 ID中并不包含开关损耗，并且实际使用时保持管表面温度在25℃（Tcase）也很难。因此，硬开关应用中实际开关电流通常小于ID额定值@TC=25℃的一半，通常在1/3～1/4。补充，如果采用热阻JA的话可以估算出特定温度下的ID，这个值更有现实意义。 （3）IDM：脉冲漏极电流，体现一个抗冲击能力，跟脉冲时间也有关系。 该参数反映了器件可以处理的脉冲电流的高低，脉冲电流要远高于连续的直流电流。定义IDM的目的在于：线的欧姆区。对于一定的栅-源电压，MOSFET导通后，存在最大的漏极电流。如图所示，对于给定的一个栅-源电压，如果工作点位于线性区域内，漏极电流的增大会提高漏-源电压，由此增大导通损耗。长时间工作在大功率之下，将导致器件失效。因此，在典型栅极驱动电压下，需要将额定IDM设定在区域之下。区域的分界点在Vgs和曲线相交点。 因此需要设定电流密度上限，防止芯片温度过高而烧毁。这本质上是为了防止过高电流流经封装引线，因为在某些情况下，整个芯片上最“薄弱的连接”不是芯片，而是封装引线。 考虑到热效应对于IDM的限制，温度的升高依赖于脉冲宽度，脉冲间的时间间隔，散热状况，RDS(on)以及脉冲电流的波形和幅度。单纯满足脉冲电流不超出IDM上限并不能保证结温不超过最大允许值。可以参考热性能与机械性能中关于瞬时热阻的讨论，来估计脉冲电流下结温的情况。 （4）FoM：品质因数、 是RDS(on)和QG的乘积，说明了MOSFET的传导损耗和开关损耗。因此，MOS管的效率取决于RDS(on)和QG 2、静态参数 （1）V(BR)DSS：漏源击穿电压，当Vgs=0V时，MOS的D、S端所能承受的最大电压。 在栅源短接，漏-源额定电压(VDSS)是指漏-源未发生雪崩击穿前所能施加的最大电压。在超过MOSFET的击穿电压时，通常会发生雪崩，这通常是由于非钳位电感开关(UIS)造成的，实际上，在大电流应用中，由于MOSFET封装和PCB走线中的寄生电感或变压器漏感（例如在反激式转换器中），会导致关断瞬态高压。 根据温度的不同，V(BR)DSS随温度略有增加。实际雪崩击穿电压可能低于额定VDSS。关于V(BR)DSS的详细描述请参见静电学特性。 （2）IDSS：零栅压漏极电流，饱和漏源漏电流，是指在当栅源电压VGS＝0时，在特定的漏源电压下的漏源之间泄漏电流。 IDSS是指在当栅源电压为零时，在特定的漏源电压下的漏源之间泄漏电流。既然泄漏电流随着温度的增加而增大，IDSS在室温和高温下都有规定。漏电流造成的功耗可以用IDSS乘以漏源之间的电压计算，通常这部分功耗可以忽略不计。 （3）IGSS：栅源正向漏电流 IGSS是指在特定的栅源电压情况下流过栅极的漏电流。 （4）RDS(on)：导通电阻 RDS(on)是指在特定的漏电流（通常为ID电流的一半）、栅源电压和25℃的情况下测得的漏-源电阻。 （5）VGS(th)，VGS(off)：阈值电压 应用中，常将漏极短接条件下ID等于1毫安时的栅极电压称为开启电压。此参数一般会随结温度的上升而有所降低。 VGS(th)是指加的栅源电压能使漏极开始有电流，或关断MOSFET时电流消失时的电压，测试的条件（漏极电流，漏源电压，结温）也是有规格的。正常情况下，所有的MOS栅极器件的阈值电压都会有所不同。因此，VGS(th)的变化范围是规定好的。VGS(th)是负温度系数，当温度上升时，MOSFET将会在比较低的栅源电压下开启。 3、动态参数 （1）Qg:栅极总充电电荷量 栅电荷值反应存储在端子间电容上的电荷，既然开关的瞬间，电容上的电荷随电压的变化而变化， Qgs从0电荷开始到第一个拐点处，Qgd是从第一个拐点到第二个拐点之间部分（也叫做“米勒”电荷），Qg是从0点到VGS等于一个特定的驱动电压的部分。 漏电流和漏源电压的变化对栅电荷值影响比较小，而且栅电荷不随温度的变化。测试条件是规定好的。栅电荷的曲线图体现在数据表中，包括固定漏电流和变化漏源电压情况下所对应的栅电荷变化曲线。在图中平台电压VGS(pl)随着电流的增大增加的比较小（随着电流的降低也会降低）。平台电压也正比于阈值电压，所以不同的阈值电压将会产生不同的平台电压。 （2）Qgs：栅源充电电荷量 （3）Qgd:栅极漏极充电电荷量 （4）Ciss：输入电容，Ciss=Cgd+Cgs