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2025/9/23 1:17:51/
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重庆梁平网站建设哪家便宜,成都网络营销品牌代理机构,济南建站详情,企业网站开发综合实训4.10节Device Self-test Requirements详细描述了数据中心NVMe SSD自检的要求#xff0c;这一部分规范了设备自身进行各种健康检查和故障检测的过程。自检对于确保SSD的正常运行和提前预防潜在故障至关重要。 在进行设备自检时#xff0c;设备应当确保不对用户数据造成破坏这一部分规范了设备自身进行各种健康检查和故障检测的过程。自检对于确保SSD的正常运行和提前预防潜在故障至关重要。 在进行设备自检时设备应当确保不对用户数据造成破坏即除了读取用户数据外自检过程不会导致数据丢失或损坏。例如即使在进行读取操作时产生轻微的读取干扰只要这种影响极小就不被视为破坏性行为。
此外针对设备自检Device Self-test的重新执行情况规范做出了特别说明。例如在连续两次执行自我测试时如果第二次测试发生在第一次成功完成后不久则第二次的Media Check Extended应当检查不同的逻辑块地址(LBAs)并在必要时进行循环扫描以覆盖尽可能多的存储区域避免每次测试重复同一部分而导致某些潜在问题遗漏。
具体来说如果一个设备拥有10000h分配的LBAs即总共有10000个逻辑块地址但在指定的设备自检完成时间内只能扫描到其中的6000h即6000个逻辑块地址那么设备自检的执行将采取分批扫描的方式。 首次设备自我测试运行时将扫描从LBAs 0h到5FFFh的部分 紧接着下一次运行时将接着扫描从LBAs 6000h到BFFFh的部分 随后的下一轮测试将开始于C000h的LBAs并在达到地址上限后循环回到0h继续扫描直到1FFFh然后依次类推。
这样做的目的在于即使在有限的测试时间内无法一次性扫描完全部的LBAs也能确保每次执行都能检查到新的、尚未被上次测试覆盖到的存储区域从而逐步全面地检测存储设备的健康状况。通过这种循环交错的扫描方式设备自我测试能够实现对存储介质的有效分段式检查有利于早期发现潜在故障确保数据的安全性和存储系统的稳定性。
对于SMART/Health Information的检查规定在自检中如遇到温度阈值超标的情况不应导致测试失败因为这通常是风扇或系统故障引起的而非SSD本身的问题。在自检操作中将忽略SMART/Health Information日志页面中Critical Warning bit 1温度警告位的影响。 在进行扩展设备自检时设备制造商需要提供一个最小的逻辑块地址(LBA)数量要求以便主机写入足够的数据以促使设备自检操作能读取到所有物理非易失性存储单元如NAND闪存芯片。
最后针对特定的设备自自检代码Device Self-test Code, STC规范规定了设备在给定时间内至少要完成哪些测试段。例如对于STC为1h或Eh的设备自检操作至少需要包括segments 1到3和8的测试并尽可能在指定完成时间内完成segments 4到7的测试。 当设备正在进行自检的过程中如果由于同时存在的主机IO活动等原因导致未能在指定的完成时间内完成整个自检操作设备不应因此报错或终止测试。相反设备应尽可能在分配的完成时间内完成尽可能多的自检部分device self-test segments。
这意味着在并发I/O活动或其他资源竞争条件下即使无法在预定的时间内彻底完成所有的测试内容SSD也要尽力去执行尽可能多的测试环节而不是立即放弃测试。这样的设计确保了在实际运行环境中的自检能够具有更强的鲁棒性和实用性。 鲁棒性指的是一个系统在面对内部错误、外部干扰、边界条件、异常输入或不利环境条件时仍然能够保持稳定运行并维持预期功能的能力。在数据中心NVMe SSD的语境下鲁棒性表现为即便在复杂的、高负载的服务器环境中如存在大量并发的I/O活动设备的自检功能也能够在各种不利条件下坚持执行并不会因为未能在规定的完成时间内完成全部测试就失效或崩溃。这种设计确保了SSD在实际运用中能够应对不可预测的挑战保持稳定性和可靠性。 实用性则反映了设备或系统在现实场景中能够有效解决问题和满足用户需求的程度。对于数据中心NVMe SSD的自检功能来说实用性强意味着即使在理想测试条件不具备的情况下如受到并发I/O活动影响设备仍能够部分执行自我测试尽可能多地获取到有价值的信息。这样一来即便在繁忙的生产环境中系统管理员也可以通过执行自我测试得到关于SSD健康状况的部分反馈从而做出及时的决策和维护措施。
结合这两点来看数据中心NVMe SSD的自检功能设计既要确保在复杂、动态的IT环境中保持稳健运行不受临时条件约束又要能够提供实际可用的、有助于系统运维的测试结果。 小编每日撰文不易如果您看完有所受益欢迎点击文章底部左下角“关注”并点击“分享”、“在看”非常感谢
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