文章目录
- 一、接触放电测试出现系统自动待机问题案例分析(一)
- 1. 问题现象描述
- 2. 问题现象分析
- 3. 问题分析验证过程
- 3.1 MCU芯片供电电源稳定性分析验证
- 3.2 MCU芯片复位电路稳定性验证
- 4. 问题分析产生原因分析
- 5. 问题解决方案
- 6. 案例总结
- 二、接触放电测试出现系统自动待机问题案例分析(二)
- 1. 问题现象描述
- 2. 问题现象分析
- 3. 问题分析验证过程
- 4. 问题原因分析
- 5. 问题解决方案
- 6. 案例总结
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