双极板材料四探针低阻电阻测试仪四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

双极板材料四探针低阻电阻测试仪 参数

1. 便于查看的显示/直观的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示；操作易学，直观使用；

2. 基本设置操作简单，方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果；多种参数同时显示。

3. 精度高：电阻基本准确度： 0.01％；

方阻基本准确度：1%；

电阻率基本准确度：1%

4. 整机测量最大相对误差：≤±1%；整机测量标准不确定度：≤±1%

5. 四位半显示读数；十量程自动或手动测试；20mΩ/200mΩ/2000mΩ/20Ω/200Ω/2000Ω/20kΩ/200kΩ/2000ΚΩ/10ΜΩ10档分选；实现HIGH/IN/LOW分选

6. 测量范围宽： 电阻：10-7Ω～10+8Ω ；方阻：10-7Ω/□～10+8Ω/□；

7. 正反向电流源修正测量电阻误差

8. 恒流源：电流量程为：DC100mA-1A；仪器配有恒流源开关可有效保护被测件，即先让探针头压触在被测材料上，后开恒流源开关，避免接触瞬间打火。为了提高工作效率，如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时，恒流源开关可一直处于开的状态。

9. 可配合多种探头进行测试；也可配合多种测试台进行测试。

10. 校正功能：可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

11. 厚度可预设，自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

12. 自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

13. 双电测测试模式，测量精度高、稳定性好.

14. 具备温度补偿功能，修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

15. 比较器判断灯直接显示，勿需查看屏幕，作业效率得以提高。3档分选功能：超上限，合格，超下限，可对被测件进行HI/LOW判断，可直接在LCD使用标志显示；也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

16. 测试模式：可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

17. 软件功能（选配）：软件可记录、保存、各点的测试数据；可供用户对数据进行各种数据分

析。

18.显示语言 英文/中文

19.供电模式110v/220v

优化四探针法测量电阻率，关键在于‌精准控制探针参数、优化样品处理、规范操作流程‌。以下是具体方法：

一、探针参数优化

间距调整‌：

根据样品厚度选择间距（如厚度＞3倍间距时，间距1-2mm为佳）。

间距过大会导致测量区域不均匀，过小会增加接触电阻。

压力控制‌：

探针压力需适中（一般2kg左右），避免划伤样品或接触不良。

可通过弹簧装置或高度调节旋钮微调压力。

二、样品处理优化

表面清洁‌：

用酒精或超声波清洗样品，去除氧化层和污染物。

表面不平整会导致测量误差，需确保平整度。

尺寸匹配‌：

样品厚度＞3倍探针间距，边缘距离＞3倍间距。

薄膜样品需测量准确厚度，块状样品需记录横截面积。

三、操作流程优化

仪器校准‌：

使用标准电阻片验证仪器精度，调整参数直至误差＜1%。

定期检查探针磨损情况，更换断针时确保铜片与绝缘片按原顺序排列。

参数设置‌：

电流选择‌：半导体样品选10μA~1mA，金属样品选1~100mA。

测量模式‌：选择恒流测压或恒压测流模式。

测量技巧‌：

稳定后测电压，重复3次取平均值以减少误差。

复杂形状样品需结合有限元模拟修正系数或查表校准。

四、环境控制优化

温度稳定‌：

实验室温度保持25±2℃，避免外界温度变化对测量结果产生干扰。

恒温恒湿环境可减少湿度对电阻率的影响。

防干扰措施‌：

避免电磁干扰，确保测量区域无强磁场或高频信号。

探针与样品接触点需保持清洁，避免氧化层影响接触电阻。

五、数据处理优化

多点测量‌：

在不同位置重复测量，评估样品电阻率的均匀性。

计算平均电阻率及其标准偏差，评估测量结果的可靠性。

公式修正‌：

复杂形状样品需结合有限元模拟修正系数或查表校准。

探针间距和压力变化时，需重新计算探针系数C。

六、设备维护优化

定期校准‌：

每月使用标准电阻片验证仪器精度，调整参数直至误差＜1%。

定期检查探针磨损情况，更换断针时确保铜片与绝缘片按原顺序排列。

探针保养‌：

测试后关闭电源，断开探头电缆并存放在干燥环境中。

定期检查探针间距和压力，确保测量精度。

表面 电阻 surface resistance

在试样的其表面上的两电极间所加电压与在规定的电化时间里流过两电极间的电流之商，在两电

极上 可能形 成的极化忽略不计 。

注 1:除 非 另 有 规 定 ，表 面 电 阻 是 在 电 化 一 分 钟 后 测 定

注 2 通常电流主要流过试样的一个表面层，但也包括流过试样体积内的成分

体积电阻 volume resistance

在试样两相对表面上放置的两电极间所加直流电压与流过这两个电极之间的稳态电流之商，不包括沿试样表面的电流，在两电极上可能形成的极化忽略不计

注:除非另有规定，体积电阻是在电化一分钟后测定

四探针法测量电阻率时，这些因素可能悄悄影响你的精度，咱们一起来看看：

一、样品问题

表面不干净‌：氧化层或油污会增加接触电阻，记得用酒精或超声波清洗。

尺寸不合适‌：厚度至少要是探针间距的2倍，边缘也要留足距离。

二、探针操作

间距不准‌：一般1mm左右最合适，太大太小都会出问题。

压力不当‌：太轻接触不良，太重可能划伤样品。

三、参数设置

电流选错‌：半导体用10μA~1mA，金属用1~100mA，电流太大会让样品发热。

模式选错‌：恒流测压或恒压测流要根据样品特性选对。

四、环境干扰

温度波动‌：最好在23℃±1℃下测量。

电磁干扰‌：远离高频设备，做好屏蔽。

五、测量技巧

数据不稳‌：电压波动大可能接触不良，重复测3次取平均。

公式用错‌：复杂形状样品要结合有限元模拟修正。

六、设备维护

探针磨损‌：定期检查，断针时注意排列顺序。

校准缺失‌：每月用标准电阻片验证精度。

四探针测试原理：

四探针测试原理是基于电流在导体中的分布规律。当四根等间距的探针以一定的压力垂直压在被测样品上时，其中两根探针通以恒定电流I，另外两根探针则用来测量电压V。根据电流和电压的关系，可以计算出样品的电阻率。

具体来说，当电流I通过两根外探针时，会在样品内部形成一个电流场。这个电流场会影响另外两根内探针之间的电位差，即电压V。通过测量这个电压V，并结合探针的间距和电流I的大小，就可以利用公式计算出样品的电阻率。

四探针测试仪的测量步骤

准备样品：确保样品表面平整、无划痕，并且与探针的接触良好。

设置参数：根据样品的类型和测量要求，设置四探针测试仪的相关参数，如电流大小、测量时间等。

放置探针：将四根探针以等间距的方式垂直放置在样品上，并确保探针与样品接触良好。

开始测量：启动四探针测试仪，开始测量样品的电阻率。在测量过程中，测试仪会自动记录电流和电压的数据，并计算出样品的电阻率。

读取结果：测量结束后，从测试仪上读取样品的电阻率值，并进行必要的记录和分析。

四探针测试仪的优缺点

优点：

• 设备简单：四探针测试仪的结构相对简单，易于操作和维护。
• 操作方便：测量过程自动化程度高，只需简单设置参数和放置探针即可开始测量。
• 精确度高：由于采用了四探针法，测量结果的精确度较高，能够满足大多数半导体材料的测量要求。
• 对样品几何尺寸无严格要求：四探针测试仪对样品的几何尺寸没有严格要求，适用于各种形状和尺寸的样品测量。

缺点：

• 受样品表面状态影响：样品的表面状态（如平整度、划痕等）可能会影响测量结果的准确性。因此，在测量前需要对样品进行必要的处理。
• 对探针的要求较高：探针的材质、形状和间距等因素都会影响测量结果的准确性。因此，需要选择高质量的探针，并定期对其进行校准和维护。